Ведущие специалисты ООО «ИТА» приняли участие в конференции «Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой» («Сертификация ЭКБ-2015», Санкт-Петербург, с 1-3 апреля 2015г.).
На конференции был представлен доклад «Новый методологический подход к контролю качества электронной продукции для космических систем с использованием масс-спектрометрического комплекса МКМ-1», в котором предложена реализация нового методологического подхода проверки на надёжность отбраковки продукции микроэлектронной промышленности для космической отрасли и рассмотрены факторы, влияющие на надёжность работы интегральных схем (ИС) и модульных конструктивов.
Прочитать и скачать доклад Вы можете здесь >>>
Последние публикации
